Pat

J-GLOBAL ID：200903019756436625

学力評価システム

Inventor： 瀬川 洋
Applicant, Patent owner： 株式会社エスティービーソフィア
Agent (1)： 佐藤 辰彦 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001199102
Publication number (International publication number)：2003016200
Application date： Jun. 29, 2001
Publication date： Jan. 17, 2003
Summary：

【要約】【課題】大規模の集団を対象にした試験結果から算出される偏差値を反映させた形で、新たな別の試験結果に基づいて受験生の学力を適切に評価し得るシステムを提供する。【解決手段】本システムは、第1データ格納手段1、第2データ格納手段2、第1決定手段10、第2決定手段20及び第3決定手段30を備えている。第1決定手段10は、第1試験の正答率と、第2試験の配点比とに基づき第2試験のみなし平均点m’を決定する。第2決定手段20は、第1試験の平均点mと、第2試験のみなし平均点m’との比(m’/m)と、第1試験の標準偏差σとに基づき第2試験のみなし標準偏差σ’を決定する。第3決定手段30は、学習者Aの第2試験の得点a’、みなし平均点m’及びみなし標準偏差σ’に基づき、当該学習者Aのみなし偏差値ε’を演算・決定する。

Claim (excerpt)：

学習者の学力を評価するシステムであって、第1試験の各問題のタイプデータと、配点比データと、所定の母集団に対して実施された第1試験の各問題の正答率データと、標準偏差データとを格納する第1データ格納手段と、第1試験の各問題と共通のタイプの問題が包含される第2試験の各問題のタイプデータと、配点比データと、任意の学習者の第2試験の得点データとを格納する第2データ格納手段と、第1及び第2データ格納手段に共通に格納されているタイプデータに対応する問題ごとに、第1データ格納手段により格納されている第1試験の正答率データに係る正答率と、第2データ格納手段により格納されている第2試験の配点比データに係る配点比との積を演算し、該積の総和を演算することで第2試験のみなし平均点を決定する第1決定手段と、第1データ格納手段により格納されている第1試験の各問題の正答率データに係る正答率と、配点比データに係る配点比との積の総和から第1試験の平均点を決定し、第1試験の平均点と、第1決定手段により決定された第2試験のみなし平均点との比を決定し、該比と、第1試験の標準偏差データに係る標準偏差との積を演算することで第2試験のみなし標準偏差を決定する第2決定手段と、第2データ格納手段により格納されている該学習者の第2試験の得点データに係る得点と、第1決定手段により決定されたみなし平均点と、第2決定手段により決定されたみなし標準偏差とに基づき、該学習者のみなし偏差値を演算して決定する第3決定手段とを備えていることを特徴とする学力評価システム。

IPC (3)：

G06F 17/60 128 ,  G06F 19/00 130 ,  G09B 19/00

FI (3)：

G06F 17/60 128 ,  G06F 19/00 130 ,  G09B 19/00 G