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J-GLOBAL ID：200903019786252170

ひずみゲージ

Inventor： 石川 洋 ,  瀬戸 正 ,  橋本 孝晴
Applicant, Patent owner： 株式会社トーキン ,  株式会社東京測器研究所
Agent (1)： 後藤 洋介 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993044844
Publication number (International publication number)：1994258010
Application date： Mar. 05, 1993
Publication date： Sep. 16, 1994
Summary：

【要約】【目的】 金属抵抗体の弾性限度に制約されることなく、広い範囲にわたってひずみ量を検出でき、しかも測定精度の高いひずみゲージを提供することにある。【構成】 ひずみ量を検出する素子として金属抵抗体を用いるひずみゲージにおいて、前記金属抵抗体は、弾性限度以上に変形させても応力を除去すれば元の形状に復帰する超弾性効果を有する形状記憶合金で構成されている。

Claim (excerpt)：

ひずみ量を検出する素子として金属抵抗体を用いるひずみゲージにおいて、前記金属抵抗体は、弾性限度以上に変形させても応力を除去すれば元の形状に復帰する超弾性効果を有する形状記憶合金で構成されていることを特徴とするひずみゲージ。

IPC (4)：

G01B 7/18 ,  G01L 1/04 ,  G12B 1/00 ,  C22C 19/03

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭60-079556
  
• 特開昭58-091562
  
• 特開昭62-040677