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J-GLOBAL ID:200903019812944485

3次元位置測定方法および3次元位置測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 石田 長七 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993010652
Publication number (International publication number):1994222130
Application date: Jan. 26, 1993
Publication date: Aug. 12, 1994
Summary:
【要約】【目的】超音波源の送波タイミングを知ることなく超音波源の3次元の座標位置を求める。【構成】4個の受波装置2a,2b,2c,2dが1つの円周上には位置しないように配置され、各受波装置2a,2b,2c,2dにおいて超音波源1からの超音波を受波する。路程差算出手段4は、いずれか1つの受波装置2aと超音波源1との距離を基準距離としておき、他の受波装置2b,2c,2dと超音波源1との間の距離と基準距離との路程差を求める。位置演算手段5は、各受波装置2a,2b,2c,2dと超音波源1との距離を、路程差と基準距離との和として扱い、4個の関係式に基づいて超音波源1の3次元の座標位置と基準距離とを求める。
Claim (excerpt):
3次元の座標位置が既知であって1つの円周上には位置しない少なくとも4個の受波装置で超音波源より送波された方向性を持たない超音波を受波し、いずれか1つの受波装置と超音波源との距離を未知の基準距離とおいて他の受波装置と超音波源との距離と基準距離との路程差を求めた後、各受波装置の座標位置と路程差とに基づいて超音波源の3次元の座標位置に関する関係式を基準距離を含んだ形で4個以上求め、これらの関係式より基準距離および超音波源の3次元の座標位置を求めることを特徴とする3次元位置測定方法。
IPC (2):
G01S 5/20 ,  G01S 3/808
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • 特開昭52-108232

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