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J-GLOBAL ID：200903019816006951
テスト仕様生成装置および方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
中島 司朗
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992169048
Publication number (International publication number)：1994012285
Application date： Jun. 26, 1992
Publication date： Jan. 21, 1994
Summary：
【要約】【目的】 本発明は、対象システムの機能仕様からテスト仕様を正常系と異常系に分けて生成することが可能なテスト仕様生成装置および方法を提供することを目的とする。【構成】 システム機能抽出手段101で得られた対象システムの機能要素からテスト手順候補生成手段102はテスト手順の候補を生成する。全ての候補に対して部分テスト手順群生成手段103は部分テスト手順群を生成する。各々の部分テスト手順は、テスト結果出力判定手段部104で有意な動作を行なうかどうかが判定される。有意な動作を行なう部分テスト手順を有するテスト手順候補は正常系テスト仕様格納部105にテスト結果と共に格納され、有意な動作を行なう部分テスト手順を有しないテスト手順候補を異常系テスト仕様格納部に格納される。
Claim (excerpt)：
テスト対象となる装置の機能仕様からテスト仕様を生成するテスト仕様生成装置であって、対象システムの機能仕様を記憶する機能仕様記憶手段と、機能仕様記憶手段から全ての機能要素を抽出するシステム機能要素抽出手段と、抽出された機能要素の組合せであるテスト手順候補を生成するテスト手順候補生成手段と、各テスト手順候補について、部分テスト手順を生成する部分テスト手順群生成手段と、対象システムの機能仕様に則った結果とそれが得られる機能要素の組合せとを対にして記憶するテスト結果記憶手段と、テスト手順候補の部分テスト手順ごとに、テスト結果記憶手段を参照して、部分テスト手順が対象システムの機能仕様に則った結果が得られる(以下有意な動作とよぶ)か否かを判定するテスト結果判定手段と、前記テスト結果判定手段により有意な動作を行なうと判定された部分テスト手順を有するテスト手順候補について、そのテスト手順候補とテスト結果の対を正常系テスト仕様として記憶する正常系テスト仕様格納手段と、前記テスト結果判定部により有意な動作を行なうと判定された部分テスト手順を有しないテスト手順候補を異常系テスト仕様として記憶する異常系テスト仕様格納手段と、を備えたことを特徴とするテスト仕様生成装置。
IPC (2)：
G06F 11/28 340
, G06F 9/06 440
