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J-GLOBAL ID：200903019831134141

超音波診断装置

Inventor： 大澤 篤 ,  権藤 雅彦
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 伊藤 進
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994270042
Publication number (International publication number)：1996131444
Application date： Nov. 02, 1994
Publication date： May. 28, 1996
Summary：

【要約】【目的】 開口合成法に基づき素子の配列ピッチを越えた走査線密度を得、走査線密度を向上させ優れた画質の超音波断層像を得る。【構成】 メモリ用マルチプレクサ7は、書き込みアドレス発生回路17にて指定された第1及び第2波形メモリ部15、16の記憶番地にA/Dコンバータ6を介した超音波素子T1〜Tnの出力を時系列的な超音波走査線データとして選択的に送り出す。第1及び第2合成処理部8、9は、第1及び第2読みだしアドレス発生部18、19により、全体コントロール部13の制御に基づき第1及び第2波形メモリ部15、16に格納された時系列的な超音波走査線データを読み出す。読み出された超音波走査線データは、第1及び第2加算回路20、21により開口合成法によって合成され2方向の超音波走査線が形成され画像構成部10に出力され、高密度な超音波断層像を得る。

Claim (excerpt)：

所定の走査方向に沿った各走査点毎に、被検体に超音波を送受波して取得した複数の超音波反射信号を、各々記憶する記憶手段と、前記走査方向の隣合う各走査点間に設定された点を起点とする所定の超音波ビームプロファイルを与える波面軌跡に沿った振幅データを、前記記憶手段に記憶されている前記超音波反射信号から読み出して、超音波画像を構成する走査線を合成する合成処理手段とを備えたことを特徴とする超音波診断装置。

IPC (4)：

A61B 8/14 ,  G01N 29/22 501 ,  G01S 7/523 ,  G06T 1/00

FI (2)：

G01S 7/52 F ,  G06F 15/62 390 D

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平1-180450
  
• 特開昭61-272040
  
• 特開昭60-080444
  
• 特開平2-298884