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J-GLOBAL ID：200903019836129340

学習型プロセス異常診断装置、およびオペレータ判断推測結果収集装置

Inventor：
山中 理

About 山中 理

, 
小原 卓巳

About 小原 卓巳

, 
山本 勝也

About 山本 勝也


Applicant, Patent owner：
株式会社東芝

About 株式会社東芝


Agent (8)： 鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  蔵田 昌俊 ,  峰 隆司 ,  福原 淑弘 ,  村松 貞男 ,  橋本 良郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007236858
Publication number (International publication number)：2009070071
Application date： Sep. 12, 2007
Publication date： Apr. 02, 2009
Summary：
【課題】正確な異常検出と共に、実際的なプロセス監視に適切な異常診断性能を実現すること。【解決手段】対象プロセスの1以上の可調整パラメータに基づいて、対象プロセスが正常状態および異常状態の何れかの状態であるかを診断する診断部と、オペレータが対象プロセスを正常状態および異常状態の何れかの状態であると判別しているかが入力される、或いはオペレータの判断を推測し、入力結果あるいは推測結果を出力するオペレータ判断フィードバック部と、診断部の診断結果と、オペレータ判断フィードバック部の出力結果との比較情報の履歴を保持する履歴保持部と、履歴保持部に保存された履歴に基づいて、可調整パラメータの修正値を学習する可調整パラメータ学習部と、可調整パラメータ学習部が学習した可調整パラメータに基づいて、可調整パラメータの値を診断部に設定する可調整パラメータ設定部とを具備する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
1以上の可調整パラメータに基づいて、対象プロセスが正常状態および異常状態の何れかの状態であるかを診断する診断部と、 前記診断部の診断結果をオペレータに提示する診断結果提示部と、 前記オペレータが前記対象プロセスを正常状態および異常状態の何れかの状態であると判別しているかが入力される、或いは前記オペレータの判断を推測し、入力結果あるいは推測結果を出力するオペレータ判断フィードバック部と、 前記診断部の診断結果と、前記オペレータ判断フィードバック部の出力結果との比較情報の履歴を保持する履歴保持部と、 前記履歴保持部に保存された履歴に基づいて、前記可調整パラメータの修正値を学習する可調整パラメータ学習部と、 前記可調整パラメータ学習部が学習した前記可調整パラメータに基づいて、前記可調整パラメータの値を前記診断部に設定する可調整パラメータ設定部と を具備することを特徴とする学習型プロセス異常診断装置。
IPC (1)：
G05B 23/02
FI (1)：
G05B23/02 302Y
F-Term (10)：
5H223AA01 ,  5H223BB01 ,  5H223CC01 ,  5H223DD07 ,  5H223DD09 ,  5H223EE06 ,  5H223EE08 ,  5H223EE11 ,  5H223FF05 ,  5H223FF06
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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