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J-GLOBAL ID：200903019841903720

植物のストレス応答計測方法及びその装置

Inventor： 多田 美香 ,  白石 卓夫 ,  尾形 健明 ,  大矢 博昭
Applicant, Patent owner： 科学技術振興事業団
Agent (1)： 清水 守
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000312881
Publication number (International publication number)：2002122646
Application date： Oct. 13, 2000
Publication date： Apr. 26, 2002
Summary：

【要約】【課題】 植物試料挿入空間に捕らわれず、植物試料に効率よく、かつ、簡便にマイクロ波を照射することを可能にし、植物試料の各種ストレス応答を、生理的条件下で、簡便かつ敏速なESR計測が可能な植物のストレス応答計測方法及びその装置を提供する。【解決手段】 磁界発生装置2,3,4と、マイクロ波を照射させ、同時に測定を行う表面コイル型共振器1と、非破壊の植物試料を前記磁界発生装置2,3,4と前記表面コイル型共振器1に対応させて配置する空間部と、前記非破壊の植物試料への給水部7と備え、前記非破壊の植物にストレスを作用させ、そのストレス応答の結果として生成するフリーラジカルおよび活性酸素の挙動を非破壊かつ実時間で観測する。

Claim (excerpt)：

植物のストレス応答の結果として生成するフリーラジカルおよび活性酸素の挙動を、非破壊の植物の生理的条件下において、非破壊かつ実時間で観測することを特徴とする植物のストレス応答計測方法。

IPC (3)：

G01R 33/60 ,  G01N 22/00 ,  G01N 33/48

FI (3)：

G01N 22/00 V ,  G01N 33/48 N ,  G01N 24/10 520 G

F-Term (3)：

2G045AA31 ,  2G045DB30 ,  2G045GC30

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 電子スピン共鳴の計測方法および計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-046076   Applicant：財団法人山形県テクノポリス財団, 米沢電線株式会社