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J-GLOBAL ID：200903019852960068

周波数特性測定方法および装置

Inventor： 清家 高志 ,  森 隆 ,  松田 俊幸
Applicant, Patent owner： アンリツ株式会社
Agent (1)： 早川 誠志
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997013103
Publication number (International publication number)：1998197576
Application date： Jan. 07, 1997
Publication date： Jul. 31, 1998
Summary：

【要約】【課題】 被測定回路の周波数特性を短時間に且つ正確に測定すること。【解決手段】 合成波形メモリ24には、周波数が異なる複数の正弦波を合成して得た擬似白色雑音信号の波形データが予め記憶されており、この合成波形メモリ24の波形データをD/A変換器25によってアナログ信号に変換して被測定回路1へ入力し、被測定回路1から出力される信号のスペクトラムをスペクトラム解析器30に入力する。このとき、分周比可変手段26によって擬似白色雑音信号に含まれる各正弦波の周波数間隔はスペクトラム解析器30の解析帯域幅以上に設定され、且つ各正弦波の周波数はスペクトラム解析器30の各解析周波数に一致させる。

Claim (excerpt)：

周波数が異なる複数の正弦波を合成して得た擬似雑音信号を被測定回路へ入力し、該被測定回路から出力される信号のスペクトラムを所定の解析帯域幅で所定の解析周波数毎に離散的に且つ同時に検出して、前記正弦波の周波数における前記被測定回路の周波数特性を測定する周波数特性測定方法であって、擬似雑音信号に含まれる各正弦波の周波数間隔を前記所定の解析帯域幅以上にし、且つ前記各正弦波の周波数を前記各解析周波数に一致させて測定することを特徴とする周波数特性測定方法。