Pat

J-GLOBAL ID：200903019895355915

分析装置

Inventor： 北村 裕之
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994261240
Publication number (International publication number)：1996101115
Application date： Sep. 29, 1994
Publication date： Apr. 16, 1996
Summary：

【要約】【目的】 粒度分布測定装置などの分析装置における測定、データ処理などの一連の処理シーケンスをコンピュータ内のソフトウエアを変更することなく簡単に作成することができるようにした分析装置を提供すること。【構成】 コンピュータ4からの指令に基づいて分析を行うように構成された分析装置において、分析装置で行う各動作を、前記コンピュータ4と接続されているグラフィックディスプレイ6の画面60上に命令ブロックaとしてグラフィック表示し、このグラフィック表示された命令ブロックaを、前記コンピュータ4と接続されている入力装置5A,5Bを用いてグラフィックディスプレイ6の画面60上において編集することにより所望の処理シーケンスを作成するようにした。

Claim (excerpt)：

コンピュータからの指令に基づいて分析を行うように構成された分析装置において、分析装置で行う各動作を、前記コンピュータと接続されているグラフィックディスプレイの画面上に命令ブロックとしてグラフィック表示し、このグラフィック表示された命令ブロックを、前記コンピュータと接続されている入力装置を用いてグラフィックディスプレイの画面上において編集することにより所望の処理シーケンスを作成するようにしたことを特徴とする分析装置。

IPC (2)：

G01N 15/02 ,  G06F 3/14 310

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 自動滴定装置におけるマルチ画面表示方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-224433   Applicant：京都電子工業株式会社