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J-GLOBAL ID：200903019897659407

応力検出方法

Inventor： 志賀 享 ,  岡田 茜 ,  高橋 秀郎 ,  倉内 紀雄
Applicant, Patent owner： 株式会社豊田中央研究所
Agent (1)： 大川 宏
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995025725
Publication number (International publication number)：1995306101
Application date： Feb. 14, 1995
Publication date： Nov. 21, 1995
Summary：

【要約】【目的】蛍光物質を使用した応力検出方法を提供する。【構成】応力を検出すべき固体部分に蛍光物質を埋設する工程、該固体部分に埋設された蛍光物質の蛍光寿命を測定する工程および測定された蛍光寿命より該固体部分の応力を検出する工程とよりなる。固体部分に埋設された蛍光物質が固体部分の応力あるいは歪みを感知し、その蛍光寿命が変化する現象を捕らえ、蛍光寿命より固体部分の応力を検出するもの。

Claim (excerpt)：

応力を検出すべき固体部分に蛍光物質を埋設する工程、該固体部分に埋設された蛍光物質の蛍光寿命を測定する工程および測定された蛍光寿命より該固体部分の応力を検出する工程とよりなることを特徴とする応力検出方法。

IPC (3)：

G01L 1/00 ,  G01J 3/443 ,  G01N 21/64