Pat

J-GLOBAL ID：200903019916639153

センサ

Inventor： 岡本 康平 ,  杉田 充朗 ,  今村 剛士 ,  山▲崎▼ 剛生 ,  矢野 亨治 ,  塩塚 秀則 ,  尾内 敏彦 ,  黒田 亮
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (3)： 宮崎 昭夫 ,  伊藤 克博 ,  石橋 政幸
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004247468
Publication number (International publication number)：2005099007
Application date： Aug. 26, 2004
Publication date： Apr. 14, 2005
Summary：

【課題】 流体中の標的物質を検出する。【解決手段】 流体中に存在する標的物質を検出する装置であって、標的物質を含む流体が通過する空部分と電磁波を透過する材質からなる固体部分とが規則配列し、電磁波に対する屈折率の周期分布をなす周期構造体と、該周期構造体に電磁波を照射する手段と、該周期構造体から出射される電磁波を測定し、結果から屈折率の周期分布の変化を検出する手段とを有することを特徴とする装置。【選択図】図4

Claim (excerpt)：

流体中に存在する標的物質を検出する装置であって、 標的物質を含む流体が通過する空部分と電磁波を透過する材質からなる固体部分とが規則配列し、電磁波に対する屈折率の周期分布をなす周期構造体と、 該周期構造体に電磁波を照射する手段と、 該周期構造体から出射される電磁波を測定し、結果から屈折率の周期分布の変化を検出する手段と を有することを特徴とする装置。

IPC (5)：

G01N21/41 ,  G01N21/01 ,  G01N21/27 ,  G01N21/39 ,  G02B1/02

FI (5)：

G01N21/41 Z ,  G01N21/01 C ,  G01N21/27 Z ,  G01N21/39 ,  G02B1/02

F-Term (32)：

2G059AA01 ,  2G059BB01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB05 ,  2G059BB13 ,  2G059CC04 ,  2G059CC06 ,  2G059CC17 ,  2G059CC19 ,  2G059DD12 ,  2G059DD16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE04 ,  2G059EE12 ,  2G059GG01 ,  2G059GG03 ,  2G059GG04 ,  2G059GG09 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059KK03 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059PP04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 微細構造光ファイバ
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2000-553842   Applicant：クリスタルフィブレアクティーゼルスカブ
• 特許第6532326号