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J-GLOBAL ID：200903020090564150

光起電力モジュールの特性検査方法及び装置

Inventor： 長谷部 明男 ,  吉野 豪人
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 渡辺 敬介 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001230962
Publication number (International publication number)：2003046102
Application date： Jul. 31, 2001
Publication date： Feb. 14, 2003
Summary：

【要約】【課題】 光起電力モジュールの簡便で安価な特性検査方法及び装置を提供すること。【解決手段】 少なくとも1つのバイパスダイオードを有する光起電力素子を複数直列接続して構成した光起電力モジュールの特性検査方法において、単一の前記光起電力素子の面積と同じ面積の光照射領域を持つ特性検査用の光照射器を前記光起電力モジュール受光面上で前記直列接続の方向に移動させながら連続測定した光起電圧特性の最小値を良否判定値とする。

Claim (excerpt)：

少なくとも1つのバイパスダイオードを有する光起電力素子を複数直列接続して構成した光起電力モジュールの特性検査方法において、単一の前記光起電力素子の面積と同じ面積の光照射領域を持つ特性検査用の光照射器を前記光起電力モジュール受光面上で前記直列接続の方向に移動させながら連続測定した光起電圧特性の最小値を良否判定値とすることを特徴とする光起電力モジュールの特性検査方法。

FI (2)：

H01L 31/04 K ,  H01L 31/04 S

F-Term (3)：

5F051EA06 ,  5F051KA09 ,  5F051KA10