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J-GLOBAL ID:200903020172869870

炭化水素濃度測定方法及び炭化水素濃度測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 足立 勉
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992125093
Publication number (International publication number):1993322844
Application date: May. 18, 1992
Publication date: Dec. 07, 1993
Summary:
【要約】【目的】 被測定ガス中の炭化水素の濃度を好適に測定するとともに、三元触媒の劣化を検出できる炭化水素濃度測定方法及び炭化水素濃度測定装置を提供すること。【構成】 HC濃度測定装置1は、検出ガスの濃度に応じて起電力を発生する一対のHCセンサ部1A,1Bを備えており、この両HCセンサ部1A,1Bの検出素子部2A,2Bは電気的に接続されている。つまり、両検出素子部2A,2Bの固体電解質基体3A,3Bの検出電極6A,6B同士を接続してアースするとともに、固体電解質基体3A,3Bの基準電極4A,4B同士を接続して、両HCセンサ部1A,1Bの起電力の差を検出する様に構成されている。
Claim (excerpt):
酸素イオン導電性の固体電解質の表面に電極を形成した検出部を用い、該検出部の検出側電極を被測定ガスに晒して、該被測定ガス中のガス濃度を測定する方法であって、前記被測定ガス側面の炭化水素に対する酸化触媒活性を違えた少なくとも2部の検出部を用い、該各検出部の出力を比較することによって、前記被測定ガス中の炭化水素の濃度を測定することを特徴とする炭化水素濃度測定方法。
IPC (2):
G01N 27/416 ,  G01N 27/409
FI (2):
G01N 27/46 371 G ,  G01N 27/58 B
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
  • 特開昭63-006454
  • 特開昭63-006454
  • 特開昭63-016259
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