Pat
J-GLOBAL ID:200903020182995319
X線診断装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
鈴江 武彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994116763
Publication number (International publication number):1995322141
Application date: May. 30, 1994
Publication date: Dec. 08, 1995
Summary:
【要約】【目的】本発明の目的は高フレームレートモードと高精細モードとの選択的動作を簡易に実現するX線診断装置を提供することである。【構成】本発明はX線を被検体に曝射するX線管と、被検体を透過したX線透過像を光学像に変換する変換手段と、光を電荷信号に変換する撮像素子をマトリクス状に配列し、上記光学像を撮像する2次元検出器と、撮影モード時には1撮像素子づつ信号電荷を順次読み出して出力し、透視モード時には複数の撮像素子の信号電荷を同時に読み出して加算して出力する手段とを具備する。
Claim (excerpt):
X線を被検体に曝射するX線管と、被検体を透過したX線透過像を光学像に変換する変換手段と、光を電荷信号に変換する撮像素子をマトリクス状に配列し、前記光学像を撮像する2次元検出器と、撮影モード時には1撮像素子づつ信号電荷を順次読み出して出力し、透視モード時には複数の撮像素子の信号電荷を同時に読み出して加算して出力する手段とを具備することを特徴とするX線診断装置。
IPC (2):
H04N 5/32
, A61B 6/00 300
Patent cited by the Patent:
Return to Previous Page