Pat

J-GLOBAL ID：200903020203214185

学科試験システム

Inventor： 石垣 直孝
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 三好 秀和 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992334037
Publication number (International publication number)：1994180546
Application date： Dec. 15, 1992
Publication date： Jun. 28, 1994
Summary：

【要約】【目的】 学科試験を行なったとき、1人の採点者で、これを瞬時に採点し、これによって学科試験をスムーズに実施するとともに、学科試験の受験者の採点待ち時間をほぼ零にして待ち時間に起因するストレスを無くす。【構成】 教師用機器1によって試験問題の内容を入力し、これをLAN3を介して各生徒用機器2に供給し、ペーパーレスで試験を行なわせ、試験が終了したとき、教師用機器1によってLAN3を介し、各生徒用機器2から解答内容を取り込んで自動的に採点し、この採点結果を教師用機器1や各生徒用機器2によって表示したり、プリントアウトしたりする。

Claim (excerpt)：

試験問題データを蓄積している教師用機器と、各生徒毎に割り当てられる生徒用機器とを通信回線で接続し、試験を開始するとき、教師用機器から通信回線を介して各生徒用機器に試験問題データを供給して各生徒に提示し、試験終了後に、教師用機器によって通信回線を介して各生徒用機器から解答データを収集し、これらの各解答データに基づいて採点を行なう、ことを特徴とする学科試験システム。