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J-GLOBAL ID：200903020222373391

汚染土壌の汚染形態解明方法

Inventor： 石田 智治 ,  城代 哲史 ,  近藤 健介
Applicant, Patent owner： JFEスチール株式会社 ,  JFEエンジニアリング株式会社
Agent (1)： 石川 泰男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004102064
Publication number (International publication number)：2005283535
Application date： Mar. 31, 2004
Publication date： Oct. 13, 2005
Summary：

【課題】汚染土壌の浄化処理に先だって行う汚染状態の調査に際し、土壌粒子の汚染形態を解明することができ、汚染形態に適した浄化処理方式を選定することができる方法を提供する。【解決手段】汚染土壌の浄化処理に先だって行う土壌の汚染状態解明方法において、電子プローブ・マイクロ・アナライザ(EPMA)によるマッピング技術を用いて、汚染土壌の粒子に存在する有害元素の濃度分布を分析し、有害元素の濃度分布の状態から汚染された土壌粒子の汚染形態を解明する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

汚染土壌の浄化処理に先だって行う土壌の汚染状態解明方法において、電子プローブ・マイクロ・アナライザによるマッピング技術を用いて、汚染土壌の粒子に存在する有害元素の濃度分布を分析し、前記有害元素の濃度分布の状態から汚染された土壌粒子の汚染形態を解明することを特徴とする汚染土壌の汚染形態解明方法。

IPC (2)：

G01N23/225 ,  G01N27/62

FI (2)：

G01N23/225 ,  G01N27/62 V

F-Term (14)：

2G001AA03 ,  2G001AA07 ,  2G001BA05 ,  2G001CA01 ,  2G001EA01 ,  2G001GA01 ,  2G001GA02 ,  2G001GA06 ,  2G001KA01 ,  2G001LA02 ,  2G001NA10 ,  2G001NA11 ,  2G001NA12 ,  2G001NA17

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 電子スピン共鳴分析による緑麦芽品質評価方法及び麦芽品質評価方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-370632   Applicant：サッポロビール株式会社, 日機装株式会社