Pat
J-GLOBAL ID：200903020271488838
調整された波形/電荷減少質量分析法
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：
山本 秀策
, 安村 高明
, 森下 夏樹
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2002583969
Publication number (International publication number)：2004526161
Application date： Apr. 23, 2002
Publication date： Aug. 26, 2004
Summary：
本発明の方法は、電荷クエンチングプロセスと相乗して、電気力学的イオントラップ内のイオンの動きに依存する質量-対-電荷比を開発する。電気力学的イオントラップ内において、各質量-対-電荷比は、動きの独特のセットの周波数によって特徴付けられる。従って、イオントラップの時間変化電気電位を調節することによって、本発明は、どのイオンがイオントラップ内に許容されるかまたは保持されるか、そしてどのイオンが電荷クエンチング反応に供されるかを制御する。イオン保持および電荷クエンチングの制御を使用して、サンプルスループット、力学的質量範囲および複数の荷電イオンの質量分析法における単一の識別を改善する。
Claim (excerpt)：
分子のサンプルを分析する方法であって、以下の工程:
(a)複数のイオン化分子からサブセットのイオン化分子を分離するために、周波数空間内に少なくとも2つのギャップを有する調整された波形を使用する、工程;
(b)電荷減少期間の間、該サブセットのイオン化分子をクエンチャーと反応させて、該サブセットの分子のイオン化分子の荷電状態を減少させる、工程;
(c)工程(b)から生じる最も高い質量-対-電荷比を有する該イオン化分子についての質量シグナルを決定する、工程;および
(d)周波数空間内に異なる少なくとも2つのギャップを有する少なくとも別の調整された波形について、工程(a)〜(c)を繰り返して、質量スペクトルを規定する、工程、
を包含する、方法。
IPC (3)：
G01N27/62
, G01N27/64
, H01J49/42
G01N27/62 E
, G01N27/62 G
, G01N27/62 K
, G01N27/62 V
, G01N27/64 B
, H01J49/42
5C038JJ06
, 5C038JJ07
, 5C038JJ11
