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J-GLOBAL ID：200903020301162878

遅延プロファイル測定装置

Inventor： 永田 桂三
Applicant, Patent owner： 三洋電機株式会社
Agent (1)： 長屋 文雄 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999076662
Publication number (International publication number)：2000278176
Application date： Mar. 19, 1999
Publication date： Oct. 06, 2000
Summary：

【要約】【課題】 遅延プロファイルの測定に際して、消費電力の低下を行うことができる遅延プロファイル測定装置を提供する。【解決手段】 第1変動観測回路44a、44bは、同期加算回路の同期加算結果、すなわち、瞬時遅延プロファイルの変動を観測し、該変動が所定範囲を越えている場合には、間欠動作制御回路54は、平均化回路46a、46bが同期加算結果が出力される度に平均化の処理を行うように制御するが、変動が所定範囲以内の状態が継続する場合には、間欠動作制御回路54は該平均化回路46a、46bに対して平均化の処理を間欠的に行うように制御する。また、その場合には、第2変動観測回路52を停止させる。さらに、第2変動観測回路52が所定範囲を越える変動を検出した場合には、第1変動観測回路44a、44bを停止させる。

Claim (excerpt)：

拡散符号によりスペクトラム拡散された信号である受信信号と逆拡散符号とから導き出せる相関信号について遅延プロファイルを測定する遅延プロファイル測定装置であって、上記相関信号に基づき、所定の周期ごとの生成タイミングで遅延プロファイルを生成する遅延プロファイル生成部と、上記相関信号の変動を検出する変動検出部と、上記変動検出部が所定範囲を越えた変動を検出しない場合に、上記遅延プロファイル生成部が遅延プロファイルの生成タイミングを間引いて間欠的に遅延プロファイルを生成するように上記遅延プロファイル生成部を制御する制御部と、を有することを特徴とする遅延プロファイル測定装置。

IPC (4)：

H04B 1/707 ,  H04B 7/08 ,  H04B 7/26 ,  H04B 17/00

FI (4)：

H04J 13/00 D ,  H04B 7/08 D ,  H04B 17/00 C ,  H04B 7/26 K

F-Term (28)：

5K022EE02 ,  5K022EE31 ,  5K042BA00 ,  5K042BA11 ,  5K042CA02 ,  5K042CA12 ,  5K042CA17 ,  5K042CA23 ,  5K042DA01 ,  5K042DA15 ,  5K042EA03 ,  5K042FA06 ,  5K042FA08 ,  5K042FA11 ,  5K042GA01 ,  5K042GA12 ,  5K042GA14 ,  5K042GA15 ,  5K059DD35 ,  5K059DD41 ,  5K059EE02 ,  5K067BB04 ,  5K067CC10 ,  5K067CC24 ,  5K067DD47 ,  5K067EE02 ,  5K067EE32 ,  5K067LL11