土壌の光学特性測定装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：中野雅房
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997254332
Publication number (International publication number)：1999083628
Application date： Sep. 02, 1997
Publication date： Mar. 26, 1999
Summary：

【要約】【課題】土壌の形状や構造、土質等あるいは土壌面の凹凸のばらつき等によらず、土壌の光学的特性を精度よく測定することができる土壌の光学特性測定装置を提供する。【解決手段】光源27から出射された白色光を分光装置29で分光して特定波長の測定光を光積分球23の内部から土壌面3に照射する。土壌面3で散乱反射した測定光を、内面が約100%の反射率を有する球殻状の散乱反射球23内に集め、光積分球23の内部に設けられた光検出器24で平均化された散乱反射光を受光する。測定光は、分光装置29によって波長スキャンされており、データ処理装置25は反射散乱光の光スペクトルに基づいて土壌成分を判別する。

Claim (excerpt)：

土壌面に向けて測定光を照射する投光部と、土壌面に臨ませるための開口を有し、土壌面で散乱反射された測定光を捕捉して閉じ込める光捕捉部と、前記光捕捉部の内部で、前記散乱反射光を受光する光検出器と、前記光検出器の測定データに基づいて土壌の光学特性を分析する手段と、を備えた土壌の光学特性測定装置。

IPC (3)：

G01J 3/28 , A01G 7/00 602 , G01S 5/14

FI (3)：

G01J 3/28 , A01G 7/00 602 Z , G01S 5/14

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

特開平2-249952
シ-ト状物体の特性測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-249991 Applicant：横河電機株式会社
光による散乱体内部画像化装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-311993 Applicant：株式会社日立製作所

Show all

Return to Previous Page