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J-GLOBAL ID：200903020341012160

設備劣化診断システムにおける情報検出方法

Inventor： 有田 芳夫 ,  林 久高
Applicant, Patent owner： 三菱化学株式会社 ,  山武ハネウエル株式会社
Agent (1)： 堀 進 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995304158
Publication number (International publication number)：1997145404
Application date： Nov. 22, 1995
Publication date： Jun. 06, 1997
Summary：

【要約】【課題】 設備の劣化診断を行うシステムにおいて、診断対象の設備から検出される経時的データのサンプリング周期を適切なものに自動的に変更する方法を提供する。【解決手段】 対象とする設備に関する情報を、予め所定の場所に配置されたセンサにより経時的に検出し、その検出情報を、予め記録されている情報と組み合わせて設備の劣化診断を行う設備劣化診断システムにおける情報検出方法であって、予め設定した複数の周期のうちから選択した周期で、設備に関する情報を検出し、それらの検出情報から当該設備の劣化傾向を示す変数を特定し、その変数の値の経時的な変化に応じて情報を検知する周期を切り替えることを特徴とする。

Claim (excerpt)：

対象とする設備に関する情報を、予め所定の場所に配置されたセンサにより経時的に検出し、その検出情報を、予め記録されている情報と組み合わせて設備の劣化診断を行う設備劣化診断システムにおける情報検出方法であって、予め設定した複数の周期のうちから選択した周期で、前記設備に関する情報を検出し、それらの検出情報から当該設備の劣化傾向を示す変数を特定し、その変数の値の経時的な変化に応じて前記情報を検知する周期を切り替えることを特徴とする情報検出方法。

IPC (4)：

G01D 1/18 ,  G01D 21/00 ,  G01M 19/00 ,  G05B 23/02 301

FI (4)：

G01D 1/18 N ,  G01D 21/00 Q ,  G01M 19/00 Z ,  G05B 23/02 301 V