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J-GLOBAL ID：200903020441235042

共焦点顕微鏡装置及び共焦点顕微鏡装置を用いた観察方法

Inventor：
中田 竜男

About 中田 竜男


Applicant, Patent owner：
オリンパス株式会社

About オリンパス株式会社


Agent (4)： 鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  村松 貞男 ,  風間 鉄也
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003086212
Publication number (International publication number)：2004004678
Application date： Mar. 26, 2003
Publication date： Jan. 08, 2004
Summary：
【課題】標本に刺激を加えるレーザ光と画像取得のための光との標本面上での深さ方向の励起光強度分布をそれぞれ独立に変化させることができる共焦点顕微鏡装置及び共焦点顕微鏡装置を用いた観察方法を提供すること。【解決手段】第1のレーザ光源からのレーザ光で標本の走査画像を得るための第1の走査光学系(100、100′)と、前記第1のレーザ光源とは異なる第2のレーザ光源からのレーザ光で前記標本の特定部位を走査して、特異現象を発現させるための第2の走査光学系(200)と、前記第1の走査光学系と前記第2の走査光学系の少なくとも一方のレーザ光のビーム径を変化させることができるビーム径可変機構(102、202)とを備えた。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
第1のレーザ光源からのレーザ光で標本の走査画像を得るための第1の走査光学系と、 前記第1のレーザ光源とは異なる第2のレーザ光源からのレーザ光で前記標本の特定部位を走査して、特異現象を発現させるための第2の走査光学系と、 前記第1の走査光学系と前記第2の走査光学系の少なくとも一方のレーザ光のビーム径を変化させることができるビーム径可変機構とを具備することを特徴とする共焦点顕微鏡装置。
IPC (2)：
G02B21/00 ,  G01N21/64
FI (3)：
G02B21/00 ,  G01N21/64 E ,  G01N21/64 F
F-Term (33)：
2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043DA05 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043FA02 ,  2G043FA06 ,  2G043GA02 ,  2G043GB01 ,  2G043GB02 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA07 ,  2G043HA09 ,  2G043JA02 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03 ,  2G043NA01 ,  2H052AA08 ,  2H052AA09 ,  2H052AB24 ,  2H052AC14 ,  2H052AC15 ,  2H052AC16 ,  2H052AC27 ,  2H052AC34 ,  2H052AD31 ,  2H052AF07 ,  2H052AF14 ,  2H052AF21
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • レーザ走査顕微鏡
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-294107   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
Cited by examiner (1)
  • レーザ走査顕微鏡
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-294107   Applicant：オリンパス光学工業株式会社

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