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J-GLOBAL ID：200903020514425120

粒子画像の解析方法

Inventor：
本池 順

About 本池 順

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光山 訓

About 光山 訓

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橋詰 明英

About 橋詰 明英


Applicant, Patent owner：
株式会社日立製作所

About 株式会社日立製作所


Agent (1)： 磯村 雅俊
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994223027
Publication number (International publication number)：1996086736
Application date： Sep. 19, 1994
Publication date： Apr. 02, 1996
Summary：
【要約】【目的】 流体中の粒子像を静止画像として捕え画像中から目的とする対象物を解析する方法に関し、複数の識別対象に対して安定に目的の粒子を解析する。【構成】 画像中の対象粒子の領域分割、およびラベリング処理により、画像中のラベル数と抽出された領域10の画像上での分布から識別方式を決定し、入力画像に適した解析を行なう。なお、(a)は円柱の2値画像における解析対象の連結成分数が1の場合、(b)は検出粒子が淡染色され複数の領域に分割された場合、(c)は検出粒子が染色剤に染まらず全体が微小領域に分割された場合の分布をそれぞれ示す。【効果】 画像中に複数の粒子が存在していたり、また、背景部と濃度差のない無染色細胞や淡染色細胞が領域分割処理で複数部分に分割されても、画像全体を記述できるので、効率の良い粒子の解析を安定に行うことができる。
Claim (excerpt)：
液体中に懸濁する粒子サンプルをフローセル中に流し、フローセル中の粒子検出領域を通過する粒子を検出し、前記フローセル中の撮像領域を通過した検出粒子の静止画像を撮像し、撮像した粒子画像を画像解析することにより粒子の形態学的分類を行う粒子画像の解析方法において、撮像した画像を分割し分類対象毎の領域を抽出するステップと、前記画像の分割数と抽出された各々の領域の画像上での位置および抽出された領域の特徴量を求めるステップと、前記分割数と抽出領域の画像上での位置から識別分類を行うべき抽出領域数を決定するステップと、前記特徴量と分割数から粒子毎の識別分類を行うステップと、前記特徴量と分割数から画像中の粒子の出現状況を出力するステップとを有することを特徴とする粒子画像の解析方法。
IPC (4)：
G01N 15/02 ,  G01N 15/14 ,  G01N 21/85 ,  G01N 33/483
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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