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J-GLOBAL ID：200903020524649604

籾米の品質評価方法

Inventor： 下原 融 ,  藁科 二郎 ,  増田 英明 ,  坪井 邦利
Applicant, Patent owner： 静岡製機株式会社
Agent (1)： 小橋 信淳 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993073912
Publication number (International publication number)：1994288907
Application date： Mar. 31, 1993
Publication date： Oct. 18, 1994
Summary：

【要約】【目的】 籾米の品質判定方法、特に乾燥調製前の籾米(生籾)を粉砕し、その籾粉に近赤外光線を照射してその光量を検出して、その値に基づて品質を判定する籾米の品質評価方法を提供する。【構成】 乾燥調製前の籾米を、回転する円盤形状の飛散羽根で旋回空気と共に円周方向に飛ばし、円周周囲の壁面に衝突させて粉砕するステップと、上記ステップで粉砕した籾粉を近赤外分析計に供給するステップと、上記近赤外分析計における、上記ステップで得られた籾粉に、一つまたは複数波長の近赤外光を照射して得られた透過光量、反射光量などの検出値を、予め別の試料群を用いて上記のステップを経た籾粉に近赤外光を照射して得られた検出値と各々の籾粉に対応する乾燥玄米または乾燥精米の成分値または品質評価値とから得られた検量線に適用して、乾燥調製前の籾粉から乾燥玄米または乾燥精米の成分値及びまたは品質評価値を予測算出するステップと、からなる。

Claim (excerpt)：

次のA〜Cの各ステップを具備したことを特徴とする籾米の品質評価方法。A 乾燥調製前の籾米を、回転する円盤形状の飛散羽根で旋回空気と共に円周方向に飛ばし、円周周囲の壁面に衝突させて粉砕するステップ、B 上記ステップで粉砕した籾粉を近赤外分析計に供給するステップ、C 上記近赤外分析計における、上記ステップで得られた籾粉に、一つまたは複数波長の近赤外光を照射して得られた透過光量、反射光量などの検出値を、予め別の試料群を用いて上記A,Bのステップを経た籾粉に近赤外光を照射して得られた検出値と、各々の籾粉に対応する乾燥玄米または乾燥精米の成分値または品質評価値とから得られた検量線に適用して、乾燥調製前の籾粉から乾燥玄米または乾燥精米の成分値及びまたは品質評価値を予測算出するステップ。