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J-GLOBAL ID：200903020586369934

蛍光X線分析装置およびこれに使用する記録媒体

Inventor： 井上 稔 ,  井上 央 ,  片岡 由行
Applicant, Patent owner： 理学電機工業株式会社
Agent (1)： 杉本 修司 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999233461
Publication number (International publication number)：2001056305
Application date： Aug. 20, 1999
Publication date： Feb. 27, 2001
Summary：

【要約】【課題】 FP法を具現化した蛍光X線分析装置において、多様な分析対象試料について簡単に正確な分析ができる装置等を提供する。【解決手段】 理論強度と対比すべき測定強度に基づく強度を求めるために、当該装置についての各元素から発生する蛍光X線6に対する装置感度であって原子番号の近接する元素の装置感度を推定できる多数元素の装置感度と、当該装置と同型の基準となる装置についての各元素から発生する蛍光X線に対する装置感度であって原子番号の近接する元素の装置感度を推定できる多数元素の装置感度と、前記基準となる装置についての組成が既知の多種類の標準試料中の各元素から発生する蛍光X線に対する装置感度とを記憶する記憶手段11を備える。

Claim (excerpt)：

試料に1次X線を照射して、試料中の各元素から発生する蛍光X線の強度を測定し、それらの測定強度に基づく強度と、試料中の各元素の含有率を仮定して計算した各元素の蛍光X線の理論強度とが合致するように、前記仮定した各元素の含有率を逐次近似的に修正計算して、試料中の各元素の含有率を算出する蛍光X線分析装置において、前記測定強度に基づく強度を求めるために、当該装置についての各元素から発生する蛍光X線に対する装置感度であって原子番号の近接する元素の装置感度を推定できる多数元素の装置感度と、当該装置と同型の基準となる装置についての各元素から発生する蛍光X線に対する装置感度であって原子番号の近接する元素の装置感度を推定できる多数元素の装置感度と、前記基準となる装置についての組成が既知の多種類の標準試料中の各元素から発生する蛍光X線に対する装置感度とを記憶する記憶手段を備えたことを特徴とする蛍光X線分析装置。

F-Term (10)：

2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001EA01 ,  2G001FA01 ,  2G001FA06 ,  2G001FA29 ,  2G001FA30 ,  2G001GA01 ,  2G001KA01

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 蛍光X線分析方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-030014   Applicant：理学電機工業株式会社