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J-GLOBAL ID：200903020648012914

光ディスク装置

Inventor：
久保田 真司

About 久保田 真司

, 
増田 渉

About 増田 渉

, 
丹治 正次

About 丹治 正次


Applicant, Patent owner：
松下電器産業株式会社

About 松下電器産業株式会社


Agent (1)： 滝本 智之 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995213206
Publication number (International publication number)：1997063056
Application date： Aug. 22, 1995
Publication date： Mar. 07, 1997
Summary：
【要約】【目的】 テストトラックでテスト記録して、最適な記録レベル、消去レベルを求める際に、少なくとも2回繰り返し記録して求めた下限となる記録レベルと消去レベルに所定の数をかけることにより、記録レベルと消去レベルの最適値の設定を確実にかつ高速にして信号の記録再生特性を改善する。【構成】 再生信号からBER(Bit Error Rate)を検出し出力するエラー検出回路と、所定のスレシレベルとBERとを比較して、BERが使用可能な下限値かを判定し出力する下限値判定回路と、所定のテストトラックにおいて下限値判定回路でBERの下限値を検出するまで、消去レベルと記録レベルを変えて少なくとも2回以上繰り返し記録を行うテスト記録回路と、実際のユーザエリアで記録する際に、記録レベルと消去レベルの下限値に所定の数をかけて記録レベルと消去レベルとを設定する記録消去レベル設定回路とから構成される。
Claim (excerpt)：
光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて信号の記録再生を行う光ヘッドと、消去レベルを設定するための消去基準電圧発生回路と、記録レベルを設定するための記録基準電圧発生回路と、記録時には前記消去基準電圧により設定した消去レベルと前記記録基準電圧により設定した記録レベルの間で光出力を記録信号に応じて変調する光出力制御回路と、再生した信号からビットエラー率を検出し出力するエラー検出回路と、所定のスレシレベルと前記ビットエラー率とを比較して前記ビットエラー率が使用可能な下限値かを判定し出力する下限値判定回路と、所定のテストトラックにおいて少なくとも2回以上繰り返し記録を行った後、前記下限値判定回路でビットエラー率を判定し、ビットエラー率が下限値を検出するまで、所定のテストトラックにおいて前記消去レベルと前記記録レベルを変えて少なくとも2回以上繰り返し記録を行うテスト記録回路と、実際のユーザエリアで記録する際に前記下限値判定回路で検出した使用可能なビットエラー率に対応する記録レベルと消去レベルの下限値に所定の数をかけて記録レベルと消去レベルとを設定する記録消去レベル設定回路とを設けた光ディスク装置。
IPC (5)：
G11B 7/00 ,  G11B 20/18 501 ,  G11B 20/18 550 ,  G11B 20/18 572 ,  G11B 20/18
FI (5)：
G11B 7/00 M ,  G11B 20/18 501 Z ,  G11B 20/18 550 C ,  G11B 20/18 572 C ,  G11B 20/18 572 F
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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