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J-GLOBAL ID：200903020651897412

分析装置

Inventor： 村上 健二 ,  真鍋 和男 ,  黒川 英之 ,  藤本 光輝
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 森本 義弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002047246
Publication number (International publication number)：2003248007
Application date： Feb. 25, 2002
Publication date： Sep. 05, 2003
Summary：

【要約】【課題】 試料をディスク上に展開させて光学的に走査し定性・定量分析する分析装置を、解像度、検査時間とも適宜に変更できるようにする。【解決手段】 一方のディスク面が試料展開面とされ、螺旋状あるいは同心円状のトラック溝が形成されたディスク1と、ディスク1を保持し回転させるディスク回転手段2と、ディスク1の半径方向に移動自在に設けられ収束光を出射する光出射手段3と、光出射手段3からの収束光の焦点をディスク1のディスク面に合焦させるフォーカシング制御手段と、光出射手段3からの収束光の焦点をディスク1のトラック溝に追従させるトラッキング制御手段とを備え、ディスク1のディスク面に供給されて回転の際の遠心力によって展開された試料あるいはこの試料と反応した試薬に光出射手段3からの収束光を照射し、その反射光もしくは透過光を受光手段で検出して試料を分析する分析装置において、分析に必要な解像度に応じてディスク回転手段2のディスク回転数を制御する。

Claim (excerpt)：

一方のディスク面が試料展開面とされ、このディスク面に沿う方向の螺旋状あるいは同心円状のトラック溝が形成されたディスクと、前記ディスクを保持し回転させるディスク回転手段と、前記ディスク回転手段に保持されたディスクの半径方向に移動自在に設けられ収束光を出射する光出射手段と、前記光出射手段から出射される収束光の焦点を前記ディスクのディスク面に合焦させるフォーカシング制御手段と、前記光出射手段から出射される収束光の焦点を前記ディスクのトラック溝に追従させるトラッキング制御手段とを備え、前記ディスクのディスク面に供給されて回転の際の遠心力によって展開された試料あるいはこの試料と反応した試薬に前記光出射手段からの収束光を照射し、その反射光もしくは透過光を受光手段で検出して前記試料を分析する分析装置において、分析に必要な解像度に応じてディスク回転手段のディスク回転数を制御するように構成した分析装置。

IPC (2)：

G01N 35/00 ,  G01N 21/75

FI (2)：

G01N 35/00 D ,  G01N 21/75 Z

F-Term (21)：

2G054AA07 ,  2G054AB07 ,  2G054BB20 ,  2G054CA21 ,  2G054CE02 ,  2G054EA01 ,  2G054EA03 ,  2G054GA05 ,  2G054GE01 ,  2G058AA09 ,  2G058CA04 ,  2G058CC08 ,  2G058CC14 ,  2G058CF18 ,  2G058EA11 ,  2G058EA14 ,  2G058FA03 ,  2G058GA02 ,  2G058GA04 ,  2G058GC05 ,  2G058GE04