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J-GLOBAL ID:200903020767121152

3次元計測方法、3次元計測システム、画像処理装置、及びコンピュータプログラム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 河野 登夫 ,  河野 英仁
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002337223
Publication number (International publication number):2004170277
Application date: Nov. 20, 2002
Publication date: Jun. 17, 2004
Summary:
【課題】精密な3次元形状を計測できる3次元計測方法、3次元計測システム、画像処理装置、及びコンピュータプログラムの提供。【解決手段】異なる2つの視点から撮像された撮像画像を読込み(S1)、各撮像画像から特徴点を抽出し(S3)、特徴点同士の対応付けを行う(S4)。そして、計測対象物を撮像した際の撮像装置の位置及び姿勢に関して初期値を算出するとともに、3次元空間における特徴点の位置座標の初期値を算出する(S6)。そして、レーザ距離計により計測された特徴点間の距離を受付け(S7)、演算により求めた3次元空間の位置座標に基づいて算出した距離と計測距離との間の評価関数を設定し(S9)、設定した評価関数が最小となるように3次元空間の位置座標を調整する(S10)。【選択図】 図6
Claim (excerpt):
撮像装置を用いて異なる2点から撮像された計測対象物の画像を画像処理装置に読込み、読込んだ画像に基づいて、前記計測対象物の3次元形状を計測する3次元計測方法において、 読込んだ2つの画像上での対応点を求め、求めた対応点に基づき、前記計測対象物を撮像した際の前記撮像装置の位置及び姿勢を算出し、算出した前記撮像装置の位置及び姿勢に基づき、計測すべき3次元形状に対する複数の候補点を求め、求めた候補点間の距離を算出し、前記候補点間についての既知距離を外部から取得し、算出した候補点間の距離と取得した既知距離とに基づく評価関数を設定し、設定した評価関数の値が可及的に良好となるように前記候補点の座標値を調整することを特徴とする3次元計測方法。
IPC (4):
G01B11/24 ,  G06T1/00 ,  G06T7/00 ,  G06T7/60
FI (5):
G01B11/24 A ,  G06T1/00 315 ,  G06T7/00 C ,  G06T7/60 150S ,  G01B11/24 K
F-Term (38):
2F065AA04 ,  2F065AA17 ,  2F065AA19 ,  2F065AA31 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065BB27 ,  2F065CC14 ,  2F065EE08 ,  2F065FF04 ,  2F065FF11 ,  2F065FF23 ,  2F065FF67 ,  2F065GG04 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ31 ,  5B057BA02 ,  5B057BA17 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DC08 ,  5B057DC09 ,  5B057DC16 ,  5L096AA09 ,  5L096CA05 ,  5L096DA02 ,  5L096FA06 ,  5L096FA12 ,  5L096FA14 ,  5L096FA66 ,  5L096JA16 ,  5L096JA24

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