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J-GLOBAL ID：200903020780299920

地質汚染状況の検出方法及び汚染物質の除去方法

Inventor： 鈴木 喜計 ,  江沢 克己 ,  茂木 治法 ,  楡井 久 ,  佐藤 賢司 ,  古野 邦雄 ,  原田 泰雄 ,  安西 威雄 ,  松延 邦明 ,  村田 順一
Applicant, Patent owner： 君津市
Agent (1)： 佐々木 功 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992070072
Publication number (International publication number)：1993231086
Application date： Feb. 21, 1992
Publication date： Sep. 07, 1993
Summary：

【要約】【目的】 本発明は、有害物質で汚染されている地域において、その汚染の状況を検査する方法、並びにその検査に基づいて汚染物質を除去する方法であって、汚染物質が滞留する地層を正確に検出すると共に、その汚染地層に対応して、地層毎に汚染物質を除去し、汚染領域をクリーンにしようとするものである。【構成】 汚染地域において、汚染物質が滞留し易い地層とそうでない地層とがあり、実際に汚染物質が滞留している地層を所定の検出センサーで検出する方法、並びにその検出に基づき汚染地層毎に吸引井戸を穿設して重点的に汚染物質を除去するようにしたものであり、同時に吸引井戸から所定の間隔をもって複数の観測井戸を穿設し、各地層毎の汚染物質の除去状況を見ながら汚染物質を完全に吸引除去する方法である。

Claim (excerpt)：

有機化合物による汚染領域に所定深さの井戸を穿設し、該井戸内に複数個の検知センサーを夫々所定の間隔をもって吊垂状態に設置し、各検知センサーの状態によって、汚染地層の状況を検知することを特徴とする地質汚染状況の検出方法。

IPC (3)：

E21B 43/00 ,  B01D 53/34 134 ,  E21B 43/34

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特表平4-501231
  
• 特開平2-256791
  
• 特開昭61-171599