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J-GLOBAL ID：200903020794125321

超音波板厚測定装置

Inventor： 内田 清志 ,  原田 博 ,  高橋 修
Applicant, Patent owner： 中部電力株式会社 ,  トーヨーカネツ株式会社
Agent (1)： 曾我 道照 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991179895
Publication number (International publication number)：1993026654
Application date： Jul. 19, 1991
Publication date： Feb. 02, 1993
Summary：

【要約】【目的】本発明の目的は、超音波探触子と被測定面との密着性を改善し、より正確な測定結果を得ることのできる超音波板厚測定装置を提供することにある。【構成】前記目的を達成するために、本発明は、台車(11)と、この台車に昇降機構(21)を介して取り付けられた板厚測定用の超音波探触子(28)と、被測定面(1)上に接触媒質を滴下する接触媒質滴下ノズル(42)と、被測定面に塗料を噴射してマーキングを行うマーキングノズル(45)とを備えている超音波板厚測定装置(10)において、超音波探触子をジンバル式継手(27)を介して昇降機構に支持すると共に、超音波探触子を回転できるようにした。また、超音波探触子が下降する際に、接触媒質滴下ノズルの先端が超音波探触子と接触しない位置まで退避できるようにしたことを特徴とする。

Claim (excerpt)：

台車と、前記台車に昇降機構を介して取り付けられ、被測定面に押し付けられるようになっている少なくとも1つの板厚測定用の超音波探触子と、前記超音波探触子の近傍で前記台車に取り付けられ、被測定面上に接触媒質を供給する接触媒質供給装置と、被測定面に塗料を噴射してマーキングを行うマーキングノズルと、を備えている超音波板厚測定装置において、前記超音波探触子をジンバル式継手を介して前記昇降機構に支持すると共に、前記超音波探触子が下降され被測定面に押し付けられる際に、前記超音波探触子を回転させるようにしたことを特徴とする超音波板厚測定装置。