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J-GLOBAL ID：200903020932944533

精密電流検知のための光ファイバ装置及び方法

Inventor： ブレイク ジェイムス エヌ
Applicant, Patent owner： ザ テキサス エイ アンド エム ユニヴァーシティ システム
Agent (1)： 杉村 暁秀 (外5名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1998510767
Publication number (International publication number)：2000515979
Application date： Aug. 01, 1997
Publication date： Nov. 28, 2000
Summary：

【要約】精密な測定を為す光ファイバ・センサ(10)及び方法を提供する。偏光維持光ファイバ(22)は線形光路を形成している。光学素子(40)が用いられて、直線偏光波を、前記光路に沿って伝播して検知媒体(32)を通過する円偏光波に変換する。外部ストレス及び擾乱のために、光学素子(40)は偏光の誤った状態の光を光路内に導入する。その結果は測定におけるスケール係数誤差と検出器(46)で検出される余剰インコヒーレントD.C.光とである。この余剰インコヒーレントD.C.光の存在及び大きさが用いられて、スケール係数誤差を補償する正規化係数を提供する。

Claim (excerpt)：

光ファイバ・センサであって、 光路を形成する偏光維持光ファイバと、 前記光路上の偏光維持光ファイバを伝播する2つの直線偏光した光波と、 前記光ファイバに結合され、前記2つの直線偏光波を、検知領域へ向けて前 記光路を伝播する2つの円偏光波に変換する少なくとも1つの4分の1波長板 と、 前記光ファイバに結合され、前記円偏光した光波内の差分位相シフトを検出 して前記磁界或は前記電流の大きさに相関する出力を発生する検出器であって 、前記検出器出力が前記4分の1波長板の不完全性によって導入されるインコ ーヒレントD.C.光成分を含む検出器と、 前記検出器出力を受信して、前記の検出された大きさを前記インコーヒレン トD.C.光成分に応じて補正し、精密なセンサ測定値を発生する手段とを具 え、 前記検知領域が、前記光路のほぼ中間点で前記偏光維持光ファイバに結合され ている検知媒体を含み、前記検知媒体を通過する前記円偏光波が磁界又は前記 検知領域に近接する導体を流れる電流によって生ずる差分位相シフトを受ける 光ファイバ・センサ。

IPC (2)：

G01R 33/032 ,  G01R 15/24

FI (2)：

G01R 33/032 ,  G01R 15/07 B

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 光応用センサ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-333196   Applicant：株式会社東芝