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J-GLOBAL ID：200903021016931309

質量分析用標準物質及び質量分析用標準物質キット

Inventor： 山口 健太郎
Applicant, Patent owner： 日本電子株式会社 ,  山口 健太郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999122009
Publication number (International publication number)：2000310617
Application date： Apr. 28, 1999
Publication date： Nov. 07, 2000
Summary：

【要約】【課題】エレクトロスプレーイオン化法に対して適用可能な精密質量測定用の内部標準物質を提供する。【解決手段】さまざまな質量数のクラウンエーテル類にアルカリ金属塩を付加した錯化合物を主成分とする。

Claim (excerpt)：

クラウンエーテルを主成分とする質量分析用標準物質。

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• “内部標準物質にクラウンエーテルを用いたESI-MSの精密質量測定法の開発”