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J-GLOBAL ID:200903021115369728

窒化ガリウム系化合物半導体の成長方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992034133
Publication number (International publication number):1993206519
Application date: Jan. 24, 1992
Publication date: Aug. 13, 1993
Summary:
【要約】【目的】 窒化ガリウム系化合物半導体材料を有する発光デバイスにおいて、よりすぐれた実用的レベルのp型またはn型結晶を成長し、p-n接合を形成するための窒化ガリウム系化合物半導体の成長方法を提供する。【構成】 バッファ層にn型またはp型の不純物をドープし、このバッファ層の上に窒化ガリウム系化合物半導体を成長させる。さらにp型の不純物をドープした窒化ガリウム系化合物半導体を成長させた後、前記窒化ガリウム系化合物半導体を600°Cより高い温度でアニーリング、または600°Cより高い温度で電子線照射する。
Claim (excerpt):
気相成長法により、バッファ層の上に窒化ガリウム系化合物半導体を成長させる方法において、前記窒化ガリウム系化合物半導体を成長させる前に、バッファ層にn型またはp型の不純物をドープし、このバッファ層の上に窒化ガリウム系化合物半導体を成長させることを特徴とする窒化ガリウム系化合物半導体の成長方法。
IPC (2):
H01L 33/00 ,  H01S 3/18

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