Pat

J-GLOBAL ID：200903021153281397

寸法測定方法及び寸法測定システム

Inventor： 山崎 茂
Applicant, Patent owner： 日本信号株式会社
Agent (1)： 笹島 富二雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001133452
Publication number (International publication number)：2002328008
Application date： Apr. 27, 2001
Publication date： Nov. 15, 2002
Summary：

【要約】【課題】 荷物に光線を照射して荷物の寸法を測定する寸法測定方法において、専用台等を必要とせず、荷物に非接触でワンタッチでその荷物の寸法を測定する。【解決手段】 測定対象物としての荷物に光線を照射してその荷物の寸法を測定する寸法測定方法において、上記荷物1の一つの面2に向けて複数の光線3を照射しその反射光を用いて該荷物1までの距離Lを計測するステップと、上記荷物1に向けて光線3を2次元にスキャンして照射し、その反射光を撮像して光切断法により該荷物1の光線照射側の各辺像を抽出し上記荷物1の相似形状を生成するステップと、上記生成した荷物1の相似形状と該荷物1までの距離Lを用いて上記荷物1の実寸法を求めるステップとを行うものである。これにより、専用台等を必要とせず、荷物1に非接触でワンタッチでその荷物1の寸法を測定することができ、寸法測定の効率が向上する。

Claim (excerpt)：

測定対象物としての荷物に光線を照射してその荷物の寸法を測定する寸法測定方法において、上記荷物の一つの面に向けて複数の光線を照射しその反射光を用いて該荷物までの距離を計測するステップと、上記荷物に向けて光線を2次元にスキャンして照射し、その反射光を撮像して光切断法により該荷物の光線照射側の各辺像を抽出し上記荷物の相似形状を生成するステップと、上記生成した荷物の相似形状と該荷物までの距離を用いて上記荷物の実寸法を求めるステップと、を行うことを特徴とする寸法測定方法。

IPC (4)：

G01B 11/02 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/24 ,  G01C 3/06

FI (5)：

G01B 11/02 Z ,  G01B 11/00 B ,  G01C 3/06 A ,  G01B 11/24 A ,  G01B 11/24 K

F-Term (27)：

2F065AA06 ,  2F065AA21 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065DD06 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065GG06 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL13 ,  2F065LL62 ,  2F065MM16 ,  2F065QQ31 ,  2F112AA09 ,  2F112BA02 ,  2F112BA05 ,  2F112BA10 ,  2F112CA08 ,  2F112DA15 ,  2F112DA26 ,  2F112FA03 ,  2F112FA45 ,  2F112GA05