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J-GLOBAL ID：200903021227142262

熱レンズ顕微鏡超微量分析方法とその装置

Inventor： 北森 武彦 ,  澤田 嗣郎
Applicant, Patent owner： 財団法人神奈川科学技術アカデミー
Agent (1)： 西澤 利夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999168772
Publication number (International publication number)：2000356611
Application date： Jun. 15, 1999
Publication date： Dec. 26, 2000
Summary：

【要約】【課題】 操作が簡便であり、かつ、測定対象が限定されることのなく、高い分解能による分析が可能となる熱レンズ顕微鏡超微量分析方法とその装置を提供する。【解決手段】 光学顕微鏡において、励起光(A)を入射し、励起光(A)が試料(10)中に照射されることにより形成される熱レンズに検出光(B)を入射し、熱レンズによる検出光(B)の試料透過後の拡散を測定することにより試料(10)中の物質を検出を行う熱レンズ顕微鏡を用いた超微量分析方法であって、光学的調整により、試料(10)中における励起光(A)および検出光(B)の焦点位置が一致しないようにする。

Claim (excerpt)：

光学顕微鏡において、励起光を入射し、励起光が試料中に照射されることにより形成される熱レンズに検出光を入射し、熱レンズによる試料透過後の検出光の拡散を測定することにより試料中の物質の検出を行う熱レンズ顕微鏡を用いた超微量分析方法であって、光学的調整により、試料中における励起光および検出光の焦点位置が一致しないようにすることを特徴とする熱レンズ顕微鏡超微量分析方法。

IPC (2)：

G01N 25/16 ,  G02B 21/00

FI (2)：

G01N 25/16 C ,  G02B 21/00

F-Term (22)：

2G040AA02 ,  2G040AB07 ,  2G040AB12 ,  2G040BA18 ,  2G040BA24 ,  2G040BA27 ,  2G040CA03 ,  2G040CA12 ,  2G040CA18 ,  2G040CA23 ,  2G040EA06 ,  2G040EB02 ,  2G040FA10 ,  2G040HA02 ,  2H052AA00 ,  2H052AA07 ,  2H052AB01 ,  2H052AB26 ,  2H052AC05 ,  2H052AC14 ,  2H052AC34 ,  2H052AF06