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J-GLOBAL ID：200903021268321104

指紋照合装置

Inventor： 阿部 正勝
Applicant, Patent owner： 中央発條株式会社
Agent (1)： 石黒 健二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996081691
Publication number (International publication number)：1997274656
Application date： Apr. 03, 1996
Publication date： Oct. 21, 1997
Summary：

【要約】【課題】 指紋照合及び指紋登録に適した指紋が採取でき、照合不良が防止できる指紋照合装置の提供。【解決手段】 指紋照合装置Aは、識別対象者が指を押圧する直角プリズムを有し、指紋を光学的に採取して画像信号を出力する指紋画像採取部1と、画像信号を指紋画像データに変換するA/D変換部2と、指紋画像データから採取指紋の大きさと濃度値レベルを逐次求め、採取指紋の大きさの変化量が所定値以下に収束し、且つ濃度値レベルの変化量が所定値以下に収束すると指紋画像データが有効であるとする指紋画像データ判定部3と、有効な指紋画像データから特徴パラメータを抽出する特徴パラメータ抽出部4と、特徴パラメータをチェックする特徴パラメータチェック部5と、登録部6によりメモリ61に格納された登録者の特徴パラメータとチェックOKの特徴パラメータとを照合する照合部7とを備える。

Claim (excerpt)：

識別対象者が指を押圧する採取板を有し、指紋を光学的に採取して画像信号を出力する指紋画像採取手段と、前記画像信号を指紋画像データに変換するA/D変換手段と、前記指紋画像データから採取指紋の大きさを逐次求め、この大きさの変化量が所定値以下に収束すると前記指紋画像データが有効であるとする指紋画像データ判定手段と、有効な前記指紋画像データから特徴パラメータを抽出する特徴パラメータ抽出手段と、登録手段により記憶手段に格納された登録者の特徴パラメータと、前記特徴パラメータ抽出手段が抽出した特徴パラメータとを照合する照合手段とを備える指紋照合装置。

IPC (2)：

G06T 7/00 ,  A61B 5/117

FI (2)：

G06F 15/62 460 ,  A61B 5/10 322

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 画像入力装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-318158   Applicant：日本電気株式会社
• 特開昭61-255481
  
• 指紋画像入力装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-199503   Applicant：日本電装株式会社
• 特開昭63-236173