Pat
J-GLOBAL ID:200903021378120872
量子効率変調を用いたCMOSコンパチブルの三次元イメージセンシングのためのシステム
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (9):
中村 稔
, 大塚 文昭
, 熊倉 禎男
, 宍戸 嘉一
, 今城 俊夫
, 小川 信夫
, 村社 厚夫
, 西島 孝喜
, 箱田 篤
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2002550710
Publication number (International publication number):2004525351
Application date: Dec. 11, 2001
Publication date: Aug. 19, 2004
Summary:
高周波成分をS1=cos(ω・t)と理想化できる変調された周期的波形を有する光エネルギーを放射してターゲットを照射することにより、距離及び/または輝度を測る、好ましくはCMOSで実施可能な方法とシステム。放射された光エネルギーの一部分は、ターゲットにより反射され、複数の半導体光検出器のうち少なくとも一つにより検出される。光検出器の量子効率は、検出した信号を処理してターゲットと光検出器を隔てる距離zに比例するデータを作り出すために変調されている。検出は、放射された光エネルギーと反射された光エネルギーの一部分の間の位相変化の測定することを含む。量子効率は固定位相法または可変位相法により変調でき、高められた光電荷収集、差動変調、空間的マルチプレクシング及び時間的マルチプレクシングを用いて高めることができる。光検出器の容量と動作周波数において共振するインダクターを使って、本システムの必要電力条件を削減することもできる。本システムはチップ上の光検出器、関連エレクトロニクス、処理を含む。
Claim (excerpt):
少なくとも一つの光検出器と一つのターゲットの間の距離zを測定する方法であって、
(a)前記ターゲットに高周波成分S1(ω・t)を含む変調された周期的な波形を有する光エネルギーを照射するステップと、
(b)前記ターゲットから反射された前記光エネルギーの一部分を前記光検出器で検出するステップと、
(c)ステップ(b)で検出された信号を処理して前記距離zに比例するデータを出すために前記光検出器の量子効率を変調するステップと、
から成る該方法。
IPC (3):
G01S17/36
, G01B11/00
, G01S17/42
FI (3):
G01S17/36
, G01B11/00 B
, G01S17/42
F-Term (49):
2F065AA04
, 2F065AA06
, 2F065AA53
, 2F065BB05
, 2F065FF13
, 2F065FF32
, 2F065GG06
, 2F065GG07
, 2F065GG08
, 2F065JJ03
, 2F065JJ18
, 2F065JJ26
, 2F065LL04
, 2F065LL21
, 2F065NN08
, 2F065QQ01
, 2F065QQ03
, 2F065QQ14
, 2F065QQ17
, 2F065QQ25
, 2F065QQ27
, 2F065QQ33
, 2F065QQ42
, 2F065QQ47
, 5J084AA05
, 5J084AA07
, 5J084AA13
, 5J084AD02
, 5J084BA04
, 5J084BA36
, 5J084BA40
, 5J084BB20
, 5J084CA07
, 5J084CA27
, 5J084CA31
, 5J084CA41
, 5J084CA42
, 5J084CA44
, 5J084CA45
, 5J084CA49
, 5J084CA50
, 5J084CA63
, 5J084CA64
, 5J084CA67
, 5J084CA70
, 5J084DA01
, 5J084DA08
, 5J084EA07
, 5J084EA31
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (10)
-
2次元距離センサ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-146949
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
距離測定器械の校正のための装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平10-518944
Applicant:ライカゲオジステームスアクチエンゲゼルシャフト
-
光レーダ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-324220
Applicant:キヤノン株式会社
-
距離カメラ装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-277626
Applicant:株式会社ワコム
-
三次元形状測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-291770
Applicant:富士ゼロックス株式会社
-
測距器における信号検知装置および信号検知方法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2002-530877
Applicant:ギガー,クルト
-
CMOS互換3次元画像センサIC
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2001-525159
Applicant:カネスタインコーポレイテッド
-
電磁波の位相情報および/または振幅情報を調べるための方法と装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平10-512124
Applicant:シュヴァルトルドルフ
-
光学測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-214199
Applicant:浜松ホトニクス株式会社
-
特開平2-024590
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