静電荷像現像用トナー、その流動性評価方法及び評価装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：武井秀彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002323396
Publication number (International publication number)：2004157354
Application date： Nov. 07, 2002
Publication date： Jun. 03, 2004
Summary：

【課題】搬送性に問題がなく、ドット再現性の良い高画質を形成できるような高い流動性を有するトナーを提供すること。かつ精度の高い、個人差のないトナーの流動性を評価する方法を提供すること。【解決手段】少なくとも樹脂、顔料および離型剤からなり表面に添加剤を付着または固着してなる静電荷像現像用トナーであって、該トナーを予め圧密状態にして層を形成し、円錐ロータを回転させながら厚さ20mmトナー層中に侵入させたときに発生するトルクの値が0.1〜4.4mNm、または20mmトナー層中を侵入させたときに発生する荷重の値が0.01〜1Nであることを特徴とする静電荷像現像用トナー。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

少なくとも樹脂、顔料および離型剤からなり表面に添加剤を付着または固着してなる静電荷像現像用トナーであって、該トナーを予め圧密状態にして層を形成し、円錐ロータを回転させながら厚さ20mmトナー層中に侵入させたときに発生するトルクの値が0.1〜4.4mNm、または20mmトナー層中を侵入させたときに発生する荷重の値が0.01〜1Nであることを特徴とする静電荷像現像用トナー。

IPC (8)：

G03G9/087 , G01L5/00 , G01N11/14 , G03G9/08 , G03G9/097 , G03G9/10 , G03G15/06 , G03G15/08

FI (16)：

G03G9/08 381 , G01L5/00 Z , G01N11/14 B , G01N11/14 D , G03G9/08 , G03G9/08 365 , G03G9/08 372 , G03G9/08 374 , G03G9/08 375 , G03G9/10 , G03G15/06 101 , G03G15/08 504D , G03G9/08 331 , G03G9/08 346 , G03G9/08 384 , G03G15/08 507L

F-Term (41)：

2F051AB09 , 2H005AA01 , 2H005AA06 , 2H005AA08 , 2H005AA15 , 2H005AB03 , 2H005AB04 , 2H005AB06 , 2H005BA00 , 2H005CA02 , 2H005CA03 , 2H005CA04 , 2H005CA08 , 2H005CA13 , 2H005CA14 , 2H005CA25 , 2H005CB07 , 2H005CB13 , 2H005DA02 , 2H005DA05 , 2H005EA05 , 2H005EA10 , 2H005FA02 , 2H073BA03 , 2H073BA43 , 2H073CA02 , 2H073CA03 , 2H077AA12 , 2H077AA15 , 2H077AB03 , 2H077AB14 , 2H077AB15 , 2H077AC03 , 2H077AD02 , 2H077AD06 , 2H077AD14 , 2H077AD18 , 2H077AD36 , 2H077EA03 , 2H077EA12 , 2H077EA16

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (17)

粉粒体等の流体物の物性測定方法及びその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-099816 Applicant：日本スピンドル製造株式会社
静電潜像現像剤用トナー、静電潜像現像剤用トナーの製造方法、静電潜像現像剤、および画像形成方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-348341 Applicant：富士ゼロックス株式会社
電子写真用トナー
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-022861 Applicant：富士通株式会社

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Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

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