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J-GLOBAL ID：200903021454947676

軌道測量装置及び軌道測量方法

Inventor： 藤縄 比呂也
Applicant, Patent owner： 積水化学工業株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995263940
Publication number (International publication number)：1997105626
Application date： Oct. 12, 1995
Publication date： Apr. 22, 1997
Summary：

【要約】【課題】 軌道の敷設状態の変化、特にレベルの変化を連続的に、高精度で測量する。また、敷設状態のうち、測定必須の項目のみならず、軌道周辺の被測物体の位置、寸法等を同時に測量することが出来る。【解決手段】 鉄道等の軌道上を移動する台車上に、進行方向及び進行逆方向からの複数のレーザー光を受光する受光体と、受光情報を読み取り可能な装置とを搭載し、レーザー入射位置の変化を順次読み取ることにより、軌道の、進行方向の状態変化量を測量する。

Claim (excerpt)：

軌道上にあって、レーザー光を水平に回転しながら発光する2台の発光装置と、軌道上の台車上にあってレーザー光を受光してなる2つ以上の受光体を含む移動可能な受光装置と、からなる軌道測量装置において、受光装置が、片方の発光装置近傍から、別の発光装置側に移動しながら、受光装置が受光出来る側に入射したレーザー光の入射位置の変化を順次読み取ることにより、受光装置各位置における高さの変化量を測定することを特徴とする軌道測量装置。

IPC (3)：

G01C 7/02 ,  B61K 9/08 ,  G01C 15/00

FI (3)：

G01C 7/02 ,  B61K 9/08 ,  G01C 15/00 B