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J-GLOBAL ID：200903021467013370

粒子径分布測定装置

Inventor： 池田 英幸 ,  山口 哲司
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999244810
Publication number (International publication number)：2001074640
Application date： Aug. 31, 1999
Publication date： Mar. 23, 2001
Summary：

【要約】【課題】 粒子径分布を演算によって求める場合に用いる各種のパラメータを、誰でも簡単に検索することができる粒子径分布測定装置を提供すること。【解決手段】 装置全体を制御する演算制御部16を用いて測定条件の設定やデータ整理等を行わせるようにした粒子径分布測定装置において、前記演算制御部16に試料や分散媒の名称の一部または全部を入力することにより、粒子径分布演算に必要なパラメータを検索できるようにした。

Claim (excerpt)：

装置全体を制御する演算制御部を用いて測定条件の設定やデータ整理等を行わせるようにした粒子径分布測定装置において、前記演算制御部に試料や分散媒の名称の一部または全部を入力することにより、粒子径分布演算に必要なパラメータを検索できるようにしたことを特徴とする粒子径分布測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• レーザ回折・散乱式粒度分布測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-358080   Applicant：株式会社島津製作所