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J-GLOBAL ID：200903021510077825

蛍光X線定量方法

Inventor： 吉良 昭道 ,  杉下 晴人
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992079240
Publication number (International publication number)：1993240808
Application date： Feb. 29, 1992
Publication date： Sep. 21, 1993
Summary：

【要約】【目的】 同一の試料中に原子番号が離れた元素が混在しているような場合においても、軽元素から重元素にわたって精度よく定量分析することができる蛍光X線定量方法を提供すること。【構成】 同一試料に対して、管電圧の大きさ、一次X線フィルタの種類、X線パス部における条件などの測定条件を異ならせて複数の測定を行い、そのとき得られる複数の測定データに基づいて連立方程式を立て、この連立方程式を解くことにより、前記試料中に含まれる元素濃度を求めるようにしている。

Claim (excerpt)：

同一試料に対して、管電圧の大きさ、一次X線フィルタの種類、X線パス部における条件などの測定条件を異ならせて複数の測定を行い、そのとき得られる複数の測定データに基づいて連立方程式を立て、この連立方程式を解くことにより、前記試料中に含まれる元素濃度を求めるようにしたことを特徴とする蛍光X線定量方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭58-050412
  
• 特公平2-028819
  
• 特開平3-073834
  
• 特開昭61-170606