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J-GLOBAL ID：200903021510987260

超音波診断装置

Inventor： 石川 謙 ,  岸本 眞治 ,  馬場 博隆 ,  石原 謙
Applicant, Patent owner： 株式会社日立メディコ
Agent (1)： 秋田 収喜
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994192461
Publication number (International publication number)：1996052140
Application date： Aug. 16, 1994
Publication date： Feb. 27, 1996
Summary：

【要約】【目的】 サブトラクション像における特定の部位の運動形態を容易に把握するとともに、その3次元的動きをも容易に把握する。【構成】 被検体からの断層像データをその断層部位に隣接する他の断層部位にまで及んで順次取り出す手段と、それぞれの断層部位における断層像データを所定周期で時系列的に得てそれぞれの各断層像データをサブトラクトすることによって差分断層画像データを生成する手段と、この差分断層画像データから3次元画像データを構成する手段と、この3次元画像データに基づいてその表示を行なう手段とを備えた。

Claim (excerpt)：

被検体からの断層像データをその断層部位に隣接する他の断層部位にまで及んで順次取り出す手段と、それぞれの断層部位における断層像データを所定周期で時系列的に得てそれぞれの各断層像データをサブトラクトすることによって差分断層画像データを生成する手段と、この差分断層画像データから3次元画像データを構成する手段と、この3次元画像データに基づいてその表示を行なう手段とを備えたことを特徴とする超音波診断装置。

IPC (2)：

A61B 8/14 ,  G01N 29/06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 超音波診断装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-023435   Applicant：石原謙, 株式会社日立メディコ
• 超音波診断装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-294548   Applicant：株式会社東芝