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J-GLOBAL ID：200903021560775027

試料分析システム

Inventor： 西田 真一 ,  川崎 浩信
Applicant, Patent owner： 東亜医用電子株式会社
Agent (1)： 野河 信太郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994149848
Publication number (International publication number)：1996015267
Application date： Jun. 30, 1994
Publication date： Jan. 19, 1996
Summary：

【要約】【目的】 この発明は、試料分析システムに関し、外部記憶装置を接続した時に自動的に外部記憶装置の情報を利用又は取り出すことによって、この試料分析システムの利用者が容易に制御プログラムや分析に必要なデータなどの情報を更新することのできる試料分析システムを提供することを目的とする。【構成】 外部記憶手段と試料分析装置からなる試料分析システムにおいて、前記試料分析装置が、情報を記憶する内部記憶手段と、制御手段と、前記外部記憶手段を試料分析装置に接続する外部記憶装着手段と、前記外部記憶手段が試料分析装置に接続されたことを検知する外部記憶検知手段とを備え、前記外部記憶検知手段が前記外部記憶手段が試料分析装置に接続されたことを検出した場合に、前記制御手段が前記外部記憶手段に記憶された情報に基づいて分析を行うことを特徴とする。

Claim (excerpt)：

外部記憶手段と試料分析装置からなる試料分析システムにおいて、前記試料分析装置が、情報を記憶する内部記憶手段と、制御手段と、前記外部記憶手段を試料分析装置に接続する外部記憶装着手段と、前記外部記憶手段が試料分析装置に接続されたことを検知する外部記憶検知手段とを備え、この外部記憶検知手段が前記外部記憶手段が試料分析装置に接続されたことを検出した場合に、前記制御手段が前記外部記憶手段に記憶された情報に基づいて分析を行うことを特徴とする試料分析システム。