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J-GLOBAL ID：200903021582837727

超音波診断装置

Inventor：
権藤 雅彦

About 権藤 雅彦


Applicant, Patent owner：
オリンパス光学工業株式会社

About オリンパス光学工業株式会社


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995265515
Publication number (International publication number)：1997103431
Application date： Oct. 13, 1995
Publication date： Apr. 22, 1997
Summary：
【要約】【課題】被検体中の焦点から反射してくる超音波の空間周波数分布のAC成分から該焦点におけるドプラ情報を得る超音波診断装置にて、ビームの軸外の静止反射体からの反射成分を除去する。【解決手段】遅延駆動手段2により、アレイ状に配列された超音波振動子5-iを遅延駆動して収束超音波ビームを送信することにより、ビームの軸上の反射体からの受波信号のみを波形記憶手段31a、31bに格納する。
Claim (excerpt)：
アレイ状に配列された複数の超音波振動子からなる振動素子群と、この振動素子群の超音波振動子を駆動して超音波ビームを被検体に放射せしめる送信手段と、前記振動素子群の各超音波振動子毎に受波された前記超音波ビームの受波信号を時系列データとして格納する波形記憶手段と、前記被検体の焦点に収束する複数の超音波の波面データを記憶する波面軌跡記憶手段と、この波面軌跡記憶手段の波面データに基づいて前記波形記憶手段に記憶されている受波信号をサンプリングして、前記波面データに沿った空間周波数分布に変換する変換手段と、この空間周波数分布から前記被検体中の移動反射体の移動速度を演算する速度演算手段を備え、被検体のドプラ画像を生成する超音波診断装置において、前記送信手段は、前記振動素子群の複数の超音波振動子に対する遅延駆動手段を有し、前記超音波ビームを収束ビームとすることを特徴とする超音波診断装置。
IPC (2)：
A61B 8/06 ,  G01B 17/00
FI (2)：
A61B 8/06 ,  G01B 17/00 C
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
  • 超音波診断装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-277805   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
  • 特開昭60-070381
  • ドプラ超音波診断装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-110933   Applicant：株式会社島津製作所
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