Pat

J-GLOBAL ID：200903021621963980

プロセス管理装置

Inventor： 米沢 憲造 ,  行友 雅徳 ,  篠原 和太郎 ,  高木 康夫 ,  高田 智史 ,  西村 信孝
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (6)： 鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  蔵田 昌俊 ,  村松 貞男 ,  橋本 良郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003383909
Publication number (International publication number)：2005149006
Application date： Nov. 13, 2003
Publication date： Jun. 09, 2005
Summary：

【課題】画像データでは検出することが出来ない限られたプロセスデータの計測値からプロセス装置の機器に異常が発生したか否かを判定する。【解決手段】各プロセスの正常時に検出された計測値に基づいて、得られたスペクトルと、記憶された正常時スペクトルデータ記憶部8と、センサから送信された計測値を受信する選択処理部4と、この計測値から第1主成分及び第2主成分を含む主成分得点を算出する主成分分析部6Aと、この主成分得点をプロセス毎にウェーブレット変換するウェーブレット変換部7と、各プロセスに対応するスペクトルデータを、正常時スペクトルデータ記憶部8から読み出し、得られたスペクトルと読み出したスペクトルとに基づいてプロセス装置の機器に異常が発生したかどうかを判定する異常判定部9Aとを備えて構成する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

プラントに各々設置された複数のセンサから送信されたプロセスデータの計測値をそれぞれ受信し、受信したプロセスデータの計測値に基づいて、前記プラントに異常が発生したか否かの判定を行うプロセス管理装置であって、 前記各プラントに設置されたセンサから送信されたプロセスデータの計測値を受信する計測値受信手段と、 前記計測値受信手段により受信されたプロセスデータの計測値から、プラント毎に合成変量である、主成分得点を算出する主成分分析手段と、 前記主成分分析手段により算出された主成分得点を、前記プラント毎にウェーブレット変換するウェーブレット変換手段と、 前記ウェーブレット変換手段で解析されたデータを蓄積するスペクトルデータ記憶手段と、 前記ウェーブレット変換手段による変換の結果、オンラインで得られたスペクトルと、前記スペクトルデータ記憶手段に蓄えられたスペクトルを比較することにより、前記プラント内に異常が発生したかどうかを判定する異常判定手段と、 を備えたことを特徴とするプロセス管理装置。

IPC (3)：

G05B23/02 ,  G06F17/60 ,  G06F19/00

FI (6)：

G05B23/02 V ,  G05B23/02 301T ,  G06F17/60 106 ,  G06F17/60 122C ,  G06F17/60 138 ,  G06F19/00 130

F-Term (6)：

5H223AA01 ,  5H223DD03 ,  5H223DD09 ,  5H223EE06 ,  5H223FF03 ,  5H223FF08

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• コンピュータ支援診断装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-169795   Applicant：山本隆義

Cited by examiner (1)

• 地盤アンカーテストシステム
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願平10-546739   Applicant：アバディーンユニヴァーシティ, ユニヴァーシティオブブラッドフォード