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J-GLOBAL ID：200903021626565134

アレイ超音波探傷方法及びその装置

Inventor： 増田 智紀 ,  伊藤 一博
Applicant, Patent owner： 東京瓦斯株式会社
Agent (1)： 大橋 弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995140928
Publication number (International publication number)：1996334499
Application date： Jun. 07, 1995
Publication date： Dec. 17, 1996
Summary：

【要約】【目的】 反射体(きず)の傾きを高精度で探傷する。【構成】 超音波の送受信に用いる素子2を複数枚並べて取り付けたアレイ探触子1と、前記アレイ探触子1を制御するアレイ超音波探傷器3と、同一の反射体による反射波の受信感度分布の最大を示す位置を求めるピーク検出器と5、反射点の位置を求める反射位置計算器4と、受信感度分布の最大を示す位置及び反射位置から素子2の配列方向と反射体との傾きを求める処理装置6と、必要に応じて結果を記録する記録装置7と、結果を表示する表示装置8と、から成る受信感度分布から反射体の傾きを求めるアレイ超音波探傷装置。

Claim (excerpt)：

アレイ超音波探傷に於いて、超音波の送受信に用いる素子それぞれによって受信された、同一の反射体による反射波の受信感度分布の最大を示す位置と、素子と反射体との距離から、反射体の素子配列方向の傾きを求めるアレイ超音波探傷方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭64-073210
  
• 特開昭59-007260
  
• 特開昭57-070453
  
• 特開昭60-218014