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J-GLOBAL ID：200903021791885518

粒径計測装置

Inventor： 山田 幸生 ,  大川 晋平 ,  廣野 泰亮
Applicant, Patent owner： 国立大学法人 電気通信大学 ,  興和株式会社
Agent (1)： 相田 伸二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007104901
Publication number (International publication number)：2008261737
Application date： Apr. 12, 2007
Publication date： Oct. 30, 2008
Summary：

【課題】簡単な構成でありながら、精度良く粒径を計測する。【解決手段】微小流路2aを流れる粒子A1,A2,A3をカメラ60にて撮影し、その画像から粒径を算出する。カメラ60の焦点面60aに対して、粒子が前後にずれていると(符号A1,A3参照)、実際よりも大きくぼやけて撮影されてしまい、算出される粒径も大きくなってしまう。そこで、本発明においては、各粒子のz方向の位置を求め、そのズレ量Δz1,Δz3を算出し、粒径の補正を行なうようにしている。本発明によれば、カメラ1台という簡単な構成だけで粒子のz方向の位置を求めることができ、しかも、精度良く粒径を計測することができる。【選択図】図5

Claim (excerpt)：

流体に混入された粒子の粒径を計測する粒径計測装置において、 粒子が混入された流体を第1軸方向に流下させる微小流路と、 該第1軸方向に略直交する第3軸方向を撮影するように配置されて、前記微小流路を流下される粒子を撮影する撮影手段と、 前記微小流路を流下される流体の流量を測定する流量測定手段と、 前記撮影手段が撮影した画像データに基づき画像上での見掛けの粒径を算出する第1粒径算出手段と、 前記画像データに基づき粒子の流速を算出する流速算出手段と、 粒子についての、前記第1軸方向及び前記第3軸方向に略直交する第2軸方向に関する位置を前記画像データから測定する第2軸方向位置測定手段と、 前記流量測定手段、前記流速算出手段及び前記第2軸方向位置測定手段の算出結果と、前記微小流路を流れる流体についてのナビエ・ストークスの方程式とに基づき、粒子の第3軸方向位置を算出する第3軸方向位置算出手段と、 該第3軸方向位置算出手段の算出結果に基づき、前記撮影手段の焦点面を基準とした粒子の第3軸方向についてのズレ量を算出するズレ量算出手段と、 該ズレ量算出手段の算出結果に基づき粒子の像のボケ度を予測するボケ度予測手段と、 該ボケ度予測手段の予測結果に基づき前記見掛けの粒径を補正する第2粒径算出手段と、 を備えたことを特徴とする粒径計測装置。

IPC (2)：

G01N 15/02 ,  G01N 15/14

FI (3)：

G01N15/02 C ,  G01N15/14 D ,  G01N15/14 K

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 粒子画像分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-271453   Applicant：東亜医用電子株式会社