放射線を測定するための装置および方法

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：高木千嘉 (外1名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2000522468
Publication number (International publication number)：2001524678
Application date： Nov. 19, 1998
Publication date： Dec. 04, 2001
Summary：

【要約】サンプル・キャリア(6、6′)上に置かれたサンプルからの低エネルギー放射線を測定する方法および装置である。サンプルは2つの対向して整合したガイガー・ミュラー計数管(11、12)間にある遮蔽されたキャビティ(8)内に置かれる。その結果、サンプル放射線は両方のガイガー・ミュラー計数管にも一方のガイガー・ミュラー計数管にも到達する。後者の場合、他のガイガー・ミュラー計数管は、背景放射線だけを測定することになる。両方のガイガー・ミュラー計数管は、無視される同時発生パルスを測定するのに使用される。サンプル放射線値を得るために減算されるべき背景放射線値は、履歴背景放射線値、または、履歴背景放射線値と実際のサンプル測定中に得られた背景放射線値の両方を使用して決定される。サンプル放射線を測定しているのが両方のガイガー・ミュラー計数管である場合、背景放射線だけを測定する第3のガイガー・ミュラー計数管(13)を設けてもよい。

Claim (excerpt)：

放射物質を含んでいるサンプルから発する低エネルギー・サンプル放射線を測定するための装置(1)であって、前記放射線および背景放射線を測定するための第1、第2の放射線検出器(11、12)であり、これら第1、第2の検出器が、整合位置で互いに対面しているそれぞれの活性面(11a、12a)とほぼ平行に或る距離を置いて位置しており、この距離が、検出器(11、12)間の測定キャビティ(8)内に扁平な形態のサンプル装置(6、6′)の一時的な挿入を可能としている第1、第2の放射線検出器(11、12)と、放射線検出器を取り囲んでいる外部シールディング手段(7)であり、測定キャビティ(8)内に存在する背景放射線を減らすようになっており、また、サンプル装置(6、6′)を受け入れる開口(5)を備えている外部シールディング手段(7)と、放射線検出器(11、12)から受け取った減衰パルスを処理し、前記パルスからサンプルの発する放射線を算出し、この算出結果を評価する電子的な処理手段(50)と、前記評価の結果を記録および/または表示するための手段とを包含する装置。

IPC (2)：

G01T 1/18 , G01T 1/17

FI (2)：

G01T 1/18 E , G01T 1/17 C

F-Term (11)：

2G088EE01 , 2G088FF05 , 2G088GG01 , 2G088JJ09 , 2G088JJ29 , 2G088KK03 , 2G088KK07 , 2G088KK11 , 2G088KK15 , 2G088LL02 , 2G088LL11

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