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J-GLOBAL ID：200903021814213083

分光光度計

Inventor： 西村 節志 ,  大隅 太郎
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 中村 茂信
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992138247
Publication number (International publication number)：1993332833
Application date： May. 29, 1992
Publication date： Dec. 17, 1993
Summary：

【要約】【目的】 最適なベースライン関数を迅速に得ることができ、そのベースラインによって測定スペクトルデータを適切に補正できる分光光度計を提供する【構成】 当該装置についてのベースラインを予め密な波長間隔で測定する第1のベースライン測定部1と、この測定結果を記憶する記憶部2と、必要に応じて動作しベースラインを相対的に粗い波長間隔で測定する第2のベースライン測定部3と、この第2のベースラインによって前記第1ベースラインを修正する修正部4と、修正されたベースラインに基づいて測定スペクトルデータを補正する補正部5とを備える。

Claim (excerpt)：

光源、検出器、その他の光学素子、並びに参照試料などの波長依存性を考慮して、測定結果データを適切に補正することのできる分光光度計であって、当該装置についてのベースラインを予め密な波長間隔で測定して記憶しておく第1のベースライン測定手段と、必要に応じて動作し、当該装置についてのベースラインを相対的に粗い波長間隔で測定する第2のベースライン測定手段と、測定された第2のベースラインによって前記第1ベースラインを修正し、修正されたベースラインに基づいて分光光度計の測定結果データを補正する補正手段とを備えることを特徴とする分光光度計。