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J-GLOBAL ID:200903021845120792

成形性評価方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 萼 経夫 ,  宮崎 嘉夫 ,  中村 壽夫 ,  小野塚 薫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003433657
Publication number (International publication number):2005189194
Application date: Dec. 26, 2003
Publication date: Jul. 14, 2005
Summary:
【課題】 成形性の評価を効率的に高い精度で行うことができる成形性評価方法を提供する。【解決手段】 成形品の表面に粘着テープを貼着し、成形品のスクライブドサークルを粘着テープに転写し、該粘着テープに転写されたスクライブドサークルの像をスキャナで読み取って2次元座標を有する画像データに変換する。したがって、3次元CMM測定と比較して、読み取り精度がCCDカメラの伏角に影響されることがないため、スクライブドサークルを高い精度で読み取ることができ、成形品3の成形性の評価を効率的に、且つ、より高い精度で行うことが可能になる。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
被成形品の表面に形成されたパターンの成形後の歪みが測定され、該測定結果に基づいて成形品の成形性が評価される成形性評価方法であって、前記成形品の表面の前記パターンが転写部材に転写され、該転写部材に転写された前記パターンの像が画像読取装置により読み取られて画像データに変換され、該画像データが画像データ処理装置により処理されて該処理結果が出力装置へ出力されることを特徴とする成形性評価方法。
IPC (3):
G01B11/16 ,  G01B11/24 ,  G01N21/88
FI (3):
G01B11/16 H ,  G01N21/88 Z ,  G01B11/24 K
F-Term (21):
2F065AA53 ,  2F065AA56 ,  2F065AA65 ,  2F065BB05 ,  2F065BB28 ,  2F065CC02 ,  2F065CC06 ,  2F065CC31 ,  2F065DD04 ,  2F065DD06 ,  2F065DD11 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ03 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ38 ,  2F065SS02 ,  2F065SS06 ,  2G051AA90 ,  2G051AB10 ,  2G051AC04 ,  2G051CA04
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1) Cited by examiner (6)
  • 特開昭51-140656
  • 特開平4-203911
  • 特開平2-098606
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