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J-GLOBAL ID：200903021859551648

蛍光X線分析装置

Inventor： 桑原 章二
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 岡田 和秀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996319275
Publication number (International publication number)：1998160691
Application date： Nov. 29, 1996
Publication date： Jun. 19, 1998
Summary：

【要約】【課題】 下面照射型の蛍光X線分析装置において、大小各種の試料のセットが可能で、排気に余分な時間をかけず、効率的に分析が行えるようにする。【解決手段】 第1発明では、ベース板6上で試料を覆うカバーケースとして、大型試料用の外側カバーケース7と、その内側に着脱自在に取り付けられる小型試料用の内側カバーケース8とを用意し、ベース板6には、内外各カバーケース7,8の内部にそれぞれ通じる2種の排気通路11,12を形成した。第2発明では、前記のような外側カバーケース7に排気管24を接続し、内側カバーケース8には排気通路を形成して、内外両カバーケース7,8の装着に伴い、排気通路が排気管24に連通するようにした。

Claim (excerpt)：

分析チャンバ上面にあるベース板上にカバーケースとともに載置セットされた試料に対し、その下面側から励起X線を照射するようにした蛍光X線分析装置において、大型の試料に対応するカバーケースを備え、このカバーケースの内側には小型の試料に対応する内側カバーケースが着脱自在に取り付けられ、ベース板には、内側カバーケースの内側位置に開口する内側カバーケース用の排気通路と、内外両カバーケース間の位置に開口する外側カバーケース用の排気通路とが形成されていることを特徴とする蛍光X線分析装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 蛍光X線分析装置および分析方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-294245   Applicant：株式会社堀場製作所